分析サービス

カーエレクトロニクスやライフサイエンスの分析・解析で
研究開発をサポートします。

分析サービス

形態観察装置による受託サービス

低倍率から超高倍率まで目的に合わせた形態観察にご対応します。

試料の色合い、凹凸、隙間、構造、結晶、組成、欠陥などの情報を正確に得るためには、試料状態や観察目的によって観察の設備・方法を適切に選択する必要があります。
形態観察サービスでは、金属顕微鏡、デジタルマイクロスコープ(CCD)、走査電子顕微鏡(SEM/FE-SEM)、透過電子顕微鏡(TEM/STEM)等の表面・断面観察装置を使用して、調査目的に合った形態観察データをご提供致します。
また、観察する際の試料調整(切断、断面研磨、エッチング等)はもちろんのこと、分析から評価試験まで一連の評価業務を実施しております。

金属顕微鏡

金属顕微鏡を用いて、金属やセラミックスなどの組織観察・状態確認を実施致します。
弊社所有の金属顕微鏡は倒立型金属顕微鏡装置で、光をサンプルへ均一に照射し、サンプルを透過または反射した光を捉えて観察を行います。
サンプルの透過率または反射率の違いにより観察像のコントラストが得られる、もっとも一般的な観察方法です。
厚みや大きさのある金属試料・素材などの切断面を観察する用途に利用されます。

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デジタルマイクロスコープ

デジタルマイクロスコープ(CCD)は、カラーでの写真撮影、3D合成表示、動画撮影、寸法測定・面積計測などの機能を持っており、観る・録る・測ることによって試料表面の各種の情報を得ることが可能です。下記のような評価目的でご使用いただけます。
・カラー&高倍率で写真撮影がしたい。
・高倍率で観察をしながら寸法測定がしたい。
・試料表面の凹凸を簡易的に3D表示したい。
・高倍率での動画撮影がしたい。
観察・測定データのご提供だけでなく、環境試験や材料試験、試料の前処理(カット・研磨・エッチング)、表面分析などの一連の調査・評価作業も実施致します。

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走査電子顕微鏡(SEM)

走査電子顕微鏡(SEM)を用いて、試料の表面の高倍率形態観察を実施致します。
SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。
またSEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。
JTLでは、SEMによる観察・分析の前後に必要な工程である、評価試験や断面研磨、寸法測定等のサービスも合わせて受託を行っております。

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電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)

電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)を用いて、試料表面の形態観察を低倍率から高倍率まで幅広く実施致します。
FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡(SEM)より高倍率での観察が可能で、表面の凹凸状態や、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。
またFE-SEMに付属するエネルギー分散型X線分析装置(EDX)にて、元素分析を行うことも可能です。
JTLでは、FE-SEMによる観察・分析の前後に必要な工程である、評価試験や断面研磨、寸法測定等のサービスも合わせて受託を行っております。

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Cs-STEM(球面収差補正機能付き走査型透過電子顕微鏡)

Cs-STEM(球面収差補正機能付き走査透過電子顕微鏡)では球面収差を補正したおよそ0.1nmという極微小電子線を用いて試料断面の観察・分析を行います。
明視野および暗視野のSTEM像から結晶情報・組成分布を調べることや、二次電子検出器を用いて表面形状を観察することも可能です。また、付属するEDXやEELSにて元素分析や化学結合状態分析も可能です。

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