分析サービス

カーエレクトロニクスやライフサイエンスの分析・解析で
研究開発をサポートします。

成分分析

定性分析の受託サービス

試料中に含まれる未知の成分を特定することで、お客様の研究開発を支援致します。

概要

無機化合物から有機化合物まで、様々な材料・素材の定性分析を実施致します。
手法としては、EDX、WDX、XRF、ICP、GC-MS、FT-IRの6つの手法から未知の材料の主成分を特定します。

特徴

SEM-EDX:表面分析

B~Uまでの元素を、同時に短時間で定性分析できます。さらに、試料を観察しながら分析することで、100μm以下の異物を狙って分析できます。分析深さは、1μm程度で、表面分析に適しています。

WDX(FE-EPMA):エネルギー分解能が10eV程度

近接したピーク間の干渉を抑え、EDXでは分離不可能なピークの解析も可能です。定性範囲は、B~Uになります。

ED-XRF:非破壊分析

定性範囲は、Na~U、分析範囲は、φ0.3、1、3、10mmになります。
SEM-EDXよりも分析深さがあり(金属は数十μm、樹脂は数mm程度)バルク試料の分析に適しています。

ICP分析:高感度な微量分析

ICP質量分析装置(ICP-MS)で、高感度な微量元素分析が可能です。1点検量による簡易定量法を用いて、含まれている元素について定性分析を行います。

ガスクロマトグラフ質量分析

沸点が約300℃までの揮発性有機化合物を対象として定性分析を行います。
溶媒抽出のほか、ヘッドスペース法や加熱脱着装置を用いたアウトガスの定性分析も可能です。

FT-IRで高分子化合物・GC-MSで揮発性有機化合物を分析

GC-MSは高い定性能力を持ちますが、一方で、沸点の高い高分子化合物を検出することが出来ません。定性が困難となります。
しかしFT-IRを用いると高分子化合物を定性することが出来るため、各装置の特性を生かして幅広い成分に対して定性を行います。

設備紹介

用途

異物定性分析

【EDX】

はんだ接合部の定性分析

【断面研磨】→【EDX】

メッキの断面観察・成分分析・マッピング

【イオンミリング加工】→【WDX】

畑の土

【XRF】

溶液中の元素分析

【ICP】

樹脂材料の同定解析

【FT-IR】

報告書例

  • 表紙

  • 方法・条件

  • 結果

  • マッピング結果

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Q&A

手法ごとでどんな違いがありますか?
詳しくは以下の表をご参照下さい。
カラーマッピングは何ができるのですか?
ポイント毎の元素分析結果から、「測定面での各元素の分布状態」と「元素毎の含有率の差」をカラーマッピングにて表現することが可能です。
非導電性の製品でも定性分析は可能ですか?
はい、可能です。試料表面に金属粒子の蒸着を行うことで、試料台との導通をとります。
蒸着が不可の場合、汎用のSEMの低真空モードにて無蒸着での定性分析も可能です。
蒸着の金属粒子の種類はC(カーボン)、Au(金)、Pt&Pd(白金・パラジウム)になります。
ED-XRFであれば前処理無しで分析可能です。

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