分析サービス

カーエレクトロニクスやライフサイエンスの分析・解析で
研究開発をサポートします。

表面分析

シミ分析の受託サービス

試料表面の微量なシミの分析から調査まで一貫してご対応します。

概要

製品表面に発生したシミには、ケースに応じて様々な原因が考えられます。
弊社ではシミの状態に応じて、最適な分析手法を提案致します。
成分分析によるシミの原因物質の特定のみでなく、外観撮影から広がり具合の調査まで一貫して取り組み、問題を解決致します。

特徴

様々なシミの分析に対応

シミ状の異常の発生原因には、様々なパターンが存在します。
当社では、有機・無機・化合物問わず、原因物質の特定を行うことが可能です。
また、シミにより表面性状に異常が見られる場合は、表面観察や形状測定(凹凸形状の調査等)により、異常部の詳細を明らかにします。

シミの広がり具合を調査

マッピング分析により、シミの広がり具合を調査できます。
元素を濃度で色付けすることにより、視覚的にサンプルの状態を把握することが可能です。

薄いシミも分析可能

酸化膜等の、ナノオーダーの非常に薄いシミも分析可能です。
ESCA/XPSを用いることにより、表面nmからの分析に対応しております。また、イオンスパッタリングにより、深さ方向の分析も可能です。

設備紹介

用途

金属に発生したシミの原因物質特定

金属を始めとした無機物の表面に発生したシミ状の異常に対して、観察・成分分析により、原因物質特定から発生原因の解析まで承ります。
表面からのみでなく、断面試料作成により、断面からの分析も可能です。

有機系のシミ状異物の成分分析・広がり具合の確認

布、紙、樹脂など、有機系試料のシミ状異物に対しては、FT-IR(赤外線分光)による表面分析と、成分を抽出してのGC-MS(ガスクロマトグラフ)による分析に対応しております。

報告書例

  • 表紙

  • 方法・条件

  • 結果

  • 結果2

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Q&A

微量のシミも分析できますか?
無機物であれば数μmφから分析が可能です。
有機物は50μm×50μm程度からとなります。
装置により必要な大きさが異なりますので、まずはお問い合わせ下さい。
分析は非破壊でしょうか?
基本的には非破壊となりますが、分析に用いる電子線やエックス線により、試料表面に焼けが発生する場合がございます。
また、ガスクロマトフラフ(GC)はサンプルを気化させて分析を行いますので、破壊分析となります。その他、試料室に入らない等の理由により、サンプルの加工が必要となる場合がございます。

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