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基板の温度上昇試験

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基板
温度
電気的安全性試験

Introduction

通電による異常発熱は絶縁破壊等の故障原因につながる可能性もあります。
最近では電子部品のダウンサイジングに伴い、発熱自体は増大傾向となっています。
電流値も増大傾向で、この面からも基板の熱対策は重要となっています。

Method

【試験条件】※JIS C5012準拠
規定の電流値、時間を導体に通電、温度上昇を測定する。

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