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基板の測定

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三次元測定機
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基板
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照合
画像測定機
表面形状測定機
表面粗さ測定機
輪郭形状測定機

Introduction

プリント基板(PCB)や半導体基板、ガラス基板などの各種電子回路基板の寸法測定評価、形状評価を受託にて実施致します。
基板上に加工された極微小な穴径・穴位置などの二次元的な図面寸法評価だけではなく、レーザーを用いた高さ方向の測定(マッピング)も可能です。
また、CCDカメラで取り込んだ画像からワークの輪郭(エッジ)を自動検出することで、輪郭形状の二次元CAD照合評価も可能になり、図面では表記できないワーク形状の検証が可能になります。
受託サービス専門のJTLでは、精鋭スタッフによる基板評価の豊富な経験・技術を元に、高精度且つ用途・形状に応じた測定を実施致します。
大型基板から極微小基板まで、評価内容に応じて最適な測定結果をご提出できるよう、各種の測定機・ソフトをご用意しております。
また、JTLがご対応できる基板に関するサービスは計測・測定サービスだけではありません。基板はんだ接合部の強度試験やウィスカチェックなどの各種評価試験サービス、RoHS分析やX線透過装置による内部構造の観察を行う観察分析サービスも承っております。

Method

●図面寸法測定や、厚み・反りなどの形状評価
2D図面に記載されている一般寸法、精密公差寸法、幾何公差の測定評価を行います。
三次元測定機では測ることができない微小な穴径・穴位置の測定評価は画像測定機・工具顕微鏡にてご対応可能です。レーザーオートフォーカスを用いた微小部の高さ方向測定もご対応致します。

●グラフィカルな測定結果
基板上に加工された微小な凹凸(レーザーマーキング等)の測定は光干渉式表面形状測定機にて対応が可能です。地図の等高線のように高さ方向の傾向が色で分かるマッピング測定にご対応致します。

●輪郭形状の設計値CADモデルとの比較照合評価
二次元CADモデルデータ(※DXF等)を測定機へ取り込むことで、輪郭形状の比較照合測定が可能です。
また、取得した形状データを一般的な点群評価ソフトで解析することで、公差から外れている箇所や外れた傾向(外向きが内向きか)がひと目で分かるグラフィカルな報告書のご提出も対応可能です。
三次元CADモデルデータ(※IGES・SAT等)を取り込めば立体的な比較照合評価も可能になります。

Result

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