分析サービス

カーエレクトロニクスやライフサイエンスの分析・解析で
研究開発をサポートします。

分析サービス

表面分析の受託サービス

EDX/WDXタイプによる表面分析を受託にて実施します。

表面分析サービスは、表面分析の中でもEDX(エネルギー分散型X線分析法)とWDX(波長分散型X線分析法)による分析を主としています。
分析目的、対象元素、試料状態、試料に与える影響等から分析装置・方法を選択して、ご依頼内容に対して最適なデータを提供致します。
異物の成分分析、未知試料の組成分析、合金層における各元素の分布状態の確認、付着物のカラーマッピング、鋼材の材料判別、有害物質の定量分析など、試料調整(試料の切断・研磨・蒸着等)を含めた各種の元素分析のご対応が可能です。

EDX分析

エネルギー分散型X線分析(EDX)による元素分析サービスでは、電子線やX線を照射して試料に当てることで、励起される特性X線や蛍光X線のエネルギーを測定し、得られるスペクトルから試料表面の元素分析を実施致します。
試料表面のどこに、どのような元素が(定性)、どれぐらいの量(定量)含まれているかを分析することが可能です。

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WDX分析

EPMA、FE-EPMAの分析方法である波長分散型X線分析法(WDX)を用いて、微量元素・軽元素の受託分析サービスを実施致します。
WDX装置はエネルギー分散型X線分析装置(EDX)よりも波長分解能が優れており、微量元素や軽元素の検出感度が高い分析が可能です。
そのため金属材料の判別や微量元素の拡散状態の分析、異物の分析等の微量元素分析にご利用いただけます。

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付着物分析

未知な付着物の性状を分析するためには、付着物の大きさ、厚み、組成などの情報から適した分析方法を選択する必要があります。
付着物が発生した周囲の環境情報や、付着物のない対象品のご提供も大きな情報となります。

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膜分析

主に断面研磨、イオンミリング(CP加工)、EDX、WDX、XRFの4つの手法から、メッキや薄膜などの観察・分析を実施致します。
無機物・有機物問わず、硬い膜や多層膜まで幅広くご対応しております。

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シミ分析

製品表面に発生したシミには、ケースに応じて様々な原因が考えられます。
弊社ではシミの状態に応じて、最適な分析手法を提案致します。
成分分析によるシミの原因物質の特定のみでなく、外観撮影から広がり具合の調査まで一貫して取り組み、問題を解決致します。

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腐食分析

腐食とは材料が周囲の環境との間に化学反応を起こし、変質、消耗、破壊されて本来の機能を失う現象です。
JTLでは、所有する機器分析装置を組み合わせることで、様々な金属の錆分析や樹脂やゴムの劣化分析を実施します。

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マッピング分析

マッピング分析とは元素や成分の分布状態を視覚的に確認する分析手法です。
当社では、電子線(EDX,WDX)と、赤外顕微鏡(FT-IR)を用いたマッピング分析に対応しております。
元素マッピングにより、対象の元素がどこに・どの程度存在しているのかを把握することができます。
表面観察・定量分析等のサービスと併せて利用することにより、より分析対象の状態への理解に繋がります。

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粉体分析

金属粒子、土壌、医薬品など多種多様な粉体試料の分析に対応しています。
粉体試料は、その構成成分、粉体の量、あるいは粒径などによって、用いる装置や試料調製方法が多岐に渡ります。
JTLでは、ご依頼内容に応じた最適な分析手法を提案させて頂きます。

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コンタミ分析

自動車・航空・医療などの先端技術製品の異物(汚染・コンタミネーション)管理の要求は高まっており、製造プロセスから混入する異物は品質と信頼性に深刻な影響を及ぼすことがあります。
JTLでは製品に付着している異物を捕集し、異物の量・大きさ・成分の分析を致します。また、ISO16232やVDA19に準拠したレポートや、お客様のニーズにあわせた結果出力も対応することができます。

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