受託分析
カーエレクトロニクスやライフサイエンスの分析・解析で研究開発をサポートします。
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SEM 観察、EDX分析の委託先にお困りではありませんか？
JTLは総合受託会社として、走査電子顕微鏡（汎用SEM）を用いて、試料の表面の高倍率形態観察を行います。SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。SEMに付属するエネルギー分散型X線分析装置（EDX）による、元素分析にも対応しています。また、SEM観察・EDX分析の前後に必要な工程である信頼性評価試験や断面研磨、化学分析、寸法測定等の他サービスもまとめてご依頼いただけます。
岐阜県大垣市・愛知県豊田市・兵庫県神戸市の3拠点に複数台保有しているため、分析実施までをスムーズにご案内できます。ご希望があれば立会い分析（一部、リモート立会いも選択可）も可能です。
外部委託先・試験場をお探しの方は是非ご依頼ください。
細い電子線（電子プローブ）を試料に照射すると、試料表面から二次電子・反射電子・特性X線等の電子やX線が放出されます。
FE-SEMでは、電子線源として電界放出型（FE）が用いられおり、観察時は電子プローブを二次元的に走査しながら、二次電子や反射電子の多い少ないを検出して１枚の画像にすることで、試料表面の凹凸や組成コントラストを観察する事ができます。
EDX分析では試料から検出される特性X線のエネルギー・強度・位置等の情報から、元素の分析を行います。
汎用SEMでは低倍率（数倍）から高倍率（約20,000倍）までの幅広い倍率での観察が可能です。 それ以外の倍率での観察をご希望の場合、金属顕微鏡（～1,000倍）、デジタルマイクロスコープ（～5,000倍）、FE-SEM（～約30,000倍）、TEM（～約1,500,000倍）等、各種設備にて対応可能です。
汎用SEMで観察できる範囲はφ180mm×H70mmですが、装置に投入可能な試料サイズは約φ300mm×H70mmになり、大型の試料も投入できます。
汎用SEMでは低真空モードでの観察が可能ですので、ガスが出やすい試料や蒸着しても帯電しやすい試料、蒸着無しでは観察が困難な試料（絶縁体や少量の水・油を含んだ試料等）でも、SEM観察を行うことが可能です。
SEM装置にEDXが装着されており、試料表面を構成する元素の種類・量・分布状態を調査することが可能です。EDXによる元素分析の定量精度は、金属の場合おおよそコンマ数％オーダーとなります。
試料表面に発生したクラックや傷、変色等の各種異常部位に対して、断面試料作成により内部の観察・分析が可能です。断面分析により、「表面異常が内部までどの程度入り込んでいるか」「内部に原因物質が存在しているか」等の情報を得ることができます。
機械研磨で1mm程度、イオンミリング加工であれば数十μmの位置を正確に断面を作成することが可能です。基板の半田や端子、あるいは異種材料の接合部などの内部構造の把握が可能です。
めっきや酸化被膜といった表面処理の物性や組成を調査します。 結晶構造や組織の観察、マッピング分析により成分の分散状態を確認することが可能です。また、膜厚の測長にも対応しています。
・付着物、異物の観察や分析 異物・コンタミ分析
・錆、ボイド、亀裂等の発生箇所の観察や分析
・材料の破断面の観察
・金属製品の腐食状態の観察
・溶接品（レーザー・TIG・アーク・スポット・抵抗等）の表面や断面調査
・熱処理品（高周波・アニール・TIC・浸炭・真空等）の表面や断面調査
日立ハイテク製
低真空SEM
●最大試料寸法：φ200mm×80mm（H）
●分解能：
3.0nm（高真空）、4.0nm（低真空）
●低真空圧力設定：6～650Pa
●検出器：
二次電子検出器、
半導体形反射電子検出器、
低真空二次電子検出器
●最高観察倍率：800,000倍（表示倍率）
EDX
●分析元素範囲：Be～Cf
●エネルギー分解能：127eV以下
●有効検出素子面積：50mm²
●所有事業所：豊田事業所
日立ハイテク製
低真空・大型試料対応SEM
●最大試料寸法：φ300mm
●最大搭載可能重量：5㎏
●最大搭載可能高さ：130mm
●分解能：3.0nm (高真空)、4.0nm(低真空)
※30ｋV
●低真空圧力設定：6～650Pa
●検出器：
二次電子検出器、
反射電子検出器、
低真空二次電子検出器
●最高観察倍率：800,000倍(表示倍率)
EDX
●分析元素範囲：B～U
●オプション：粒子解析ソフトウェア、
広範囲元素マッピング
●所有事業所：神戸事業所
Q.データはどのような形式でいただけますか？
A.基本は弊社フォーマットにて報告書を作成しますが、ご希望があれば貴社フォーマットでのデータの提出も可能です。また写真の元データもJPEG・BMP・TIFFの形式で提出可能です。
Q.SEMでの測長は可能ですか？
A.可能です。面積計算は画像処理した写真からの算出になります。
Q.試料の調整（前処理・断面研磨等）から作業を依頼することは可能ですか？
A.切断・研磨・エッチング・イオンミリング等の設備を所有していますので、観察・分析の前処理が可能です。また蒸着は条件・目的に応じて、カーボン（C）、金（Au）、白金（Pt）、白金‐パラジウム（Pt‐Pｄ）、オスミウム（Os）から選択させていただきます。
評価業務にお困り事はございませんか？
JTLはお客様の頼れるパートナーとして、
シチュエーションに応じた迅速丁寧な対応を心がけております。
どんな些細なことでも構いませんので、
まずは下記のメールフォームよりお気軽にお問い合わせください。
