受託計測
製品の精密寸法測定に関わるあらゆるニーズに受託専門ならではの幅広い知識・設備力で対応します。
受託計測
製品の精密寸法測定に関わるあらゆるニーズに受託専門ならではの幅広い知識・設備力で対応します。
表面粗さ測定の委託先にお困りではありませんか?
表面粗さは物体の表面の細かい凹凸の程度を評価する指標です。
外観だけでなく、接着力や摩擦力などにも影響を及ぼすため、性能や耐久性にも関係します。
JTLは総合受託会社として、表面粗さ測定機を用いて、JISなど各種規格に基づいた表面の粗さ測定データを取得します。表面粗さ測定機では、製品・金型などの測定物の表面に測定子(円錐ダイヤモンド)を接触させ、一定の評価長さをなぞることにより凹凸の評価を行います。豊富な形状・サイズの測定子と各種の規格・パラメータへの対応により、幅広い表面粗さ測定が可能です。
また、製品や評価内容、要求精度に対して最適な測定結果をお出しできるよう、各種測定機(三次元測定/輪郭形状測定/真円度測定/画像測定など)・照合ソフトも多数ご用意しています。いくつかの測定機は複数メーカー(カールツァイス製、東京精密製、ミツトヨ製、ライツ製、ヘキサゴン製)保有があり、メーカー指定が可能です。
外部委託先・試験場をお探しの方は是非ご依頼ください。
検出器の先端についた触針で測定物の表面をなぞることで、表面の凹凸に合わせた触針の上下運動を電気的に検出します。その信号に対し増幅やデジタル化の処理を行い、表面粗さの各種パラメータの計算を行います。
X軸最大:200mm、Z軸最大:1,000μmまでの測定範囲に対応可能です。
樹脂成形品、アルミダイカスト品、プレス品、切削品などの各種規格に準拠した表面粗さ測定が可能です。JIS1982、JIS1994、JIS2001といった新・旧の規格、各種パラメータ、またISO、DIN、ASME、CNOMOといった国際規格にも対応しています。
▼ 表面粗さJIS規格 | |||
規格番号 | JIS
B0601:’82 JIS B0031:’82 |
JIS
B0601:’94 JIS B0031:’94 |
JIS
B0601:’01 ISO4287:’97/ISO1302:’02 |
断面曲線 | フィルタ無 アナログ信号 |
フィルタ無 デジタル信号 |
λs フィルタ デジタル信号 |
評価範囲 | 1基準長さ | ー | 形体の長さ |
最大高さ | Rmax | ー | Pt |
十点平均粗さ | Rz | ー | ー |
粗さ曲線 | 2RC フィルタ カットオフ値λc |
ガウシアンフィルタ 短波長λc |
ガウシアンフィルタ カットオフ値λc-λs |
評価範囲 | 1測定長さ≧3λc | 基準長さλcごと、ℓnで平均 | 基準長さλcごと、個々に |
最大高さ | ー | Ry | Rz |
十点平均粗さ | ー | Rz | RzJIS |
中心線平均粗さ | Ra | Ra75 | Ra75 |
算術平均粗さ | ー | Ra | Ra |
▼ 対応可能パラメータ | |||
高さ方向の山・谷のパラメータ | 記号 | ||
算術平均粗さ | Ra、Pa、Wa | ||
最大高さ | Rz、Pz、Wz | ||
最大断面高さ | Rt、Pt、Wt | ||
最大山高さ | Rp、Pp、Wp | ||
最大谷深さ | Rv、Pv、Wv | ||
平均高さ | Rc、Pc、Wc | ||
十点平均粗さ | Rzjis | ||
高さ方向の振幅平均パラメータ | 記号 | ||
二乗平均平方根高さ | Rq、Pq、Wq | ||
高さ方向の特徴平均パラメータ | 記号 | ||
スキューネス | Rsk、Psk、Wsk | ||
クルトシス | Rku、Pku、Wku | ||
複合パラメータ | 記号 | ||
二乗平均平方根傾斜 | RΔq、PΔq、WΔq | ||
負荷曲線・確率密度関数のパラメータ | 記号 | ||
負荷長さ率 | Rmr(c)、Pmr(c)、Wmr(c) | ||
相対負荷長さ率 | Rmr、Pmr、Wmr | ||
輪郭曲線の切断レベル差 | Rσc、Pσc、Wσc | ||
負荷曲線 | BAC | ||
確率密度関数 | ADF |
製品を固定するための治具が必要な場合、治具の設計・製作から委託可能です。もちろん、弊社所有の固定用ブロック、クランプ治具で対応可能であれば貸し出しますので、製作は不要です。
試験片加工/治具の設計製作
東京精密製
●測定範囲:
X軸(横方向)100mm
Z軸(縦方向)1,000μm
●分解能:
0.0001μm/6.4μmレンジ~
0.02μm/1,000μmレンジ
●所有事業所:名古屋事業所
東京精密製
●測定範囲:
X軸(横方向)100mm
※名古屋所有は200mm対応
Z軸(縦方向)1,000μm
●分解能:
0.0001μm/6.4μmレンジ~
0.01μm/1,000μmレンジ
●対応規格:
JIS-1982、-1994、-2001、ISO、
DIN、ASME、CNOMO規格準拠
●所有台数:3台
●所有事業所:本社、名古屋事業所、大阪事業所
東京精密製
●測定範囲:
X軸(横方向)100mm
Z軸(縦方向)800μm
●分解能:
0.0004μm/25μmレンジ~
0.01μm/800μmレンジ
●対応規格:
JIS-1982、-1994、-2001、ISO、
BS、DIN、ASME規格準拠
●所有事業所:本社
東京精密製
●測定範囲:
X軸(横方向)50mm
Z軸(縦方向)800μm
●分解能:
0.00016μm/8μmレンジ~
0.016μm/800μmレンジ
●対応規格:
JIS-1982、-1994、-2001、ISO、
DIN、ASME、CNOMO規格準拠
●所有事業所:本社
ミツトヨ製
●測定範囲:
X軸(横方向)100mm
Z軸(縦方向)800μm
●分解能:
0.0001μm/8μmレンジ~
0.01μm/800μmレンジ
●対応規格:
JIS-1982、-1994、-2001、ISO、
ANSI、VDA規格準拠
●X軸傾斜角度:±45°
●所有事業所:名古屋事業所
Q.測定を依頼する際に必要な情報はありますか?
A.目的、サンプルサイズ、材質、ご希望のパラメータ、規格、測定箇所、ご希望納期、測定時の注意事項等の事前情報があればスムーズに対応可能となります。
Q.データはどのような形式で頂けますか?
A.基本は弊社フォーマットにて報告書を作成しますが、ご希望があれば貴社フォーマットでのデータの提出も可能です。
粗さの数値や波形(グラフィック)、点群データ(生データ)の提出も可能です。
Q.どのような形状、または大きさのものまで測定ができますか?
A.機械本体の測定範囲はX軸最大200mm、Z軸±500μmです。
測定子長さは33.5mm、80.3mmなど、数種類あるため、測定品の形状・サイズに応じて測定子を選択します。
また、測定品を載せる冶具を自社で作製しているため、その組み合わせにより様々な形状の測定品にも対応することが可能です。
ただし、形状や大きさによっては測定が困難なものもあるため、事前に測定品や図面などで確認します。
Q.どのようなパラメータ、規格に対応していますか。
A.JIS1982、JIS1994、JIS2001といった新・旧の規格、各種パラメータ、またISO、DIN、ASME、CNOMOといった国際規格にも対応しています。
Q.測定子によるキズが発生することがありますか?
A.測定子の材質は円錐ダイヤモンド、触針半径は2μmのため、測定子の種類によって測定圧が0.75mN~3mNと異なります。
測定品の材質によってはキズがつくこともあるため、事前にご相談下さい。
キズを避けたい場合は非接触表面粗さ測定をご提案させて頂きます。
Q.狭い範囲での測定は可能ですか?
A.表面粗さの算出にはカットオフ値の5倍の評価長さが規定されていますが、十分な評価長さが確保できない場合、4波長分、3波長分から測定値を算出することが可能です。ただし、参考値としての報告とさせていただくことがあります。
評価業務にお困り事はございませんか?
JTLはお客様の頼れるパートナーとして、
シチュエーションに応じた迅速丁寧な対応を心がけております。
どんな些細なことでも構いませんので、
まずは下記のメールフォームよりお気軽にお問い合わせください。