分析サービス

カーエレクトロニクスやライフサイエンスの分析・解析で
研究開発をサポートします。

分析サービス

構造解析装置による受託サービス

構造解析装置による各種材料の結晶構造の解析を実施します。

結晶方位測定装置(SEM-EBSD)、ラマン分光分析装置(Raman)、X線回折装置(XRD)により、各種材料の分子構造や結晶構造の解析にご対応致します。
材料の開発や破損原因の調査などにご利用頂けます。

結晶方位測定装置(SEM-EBSD)

結晶方位測定装置(SEM-EBSD)を用いて、各種材料の結晶組織解析を実施致します。
材料の性質を知るには、材料の個々の結晶粒の方位を知り、それらがどのように配向しているのか明らかにする必要があります。特に結晶性の材料においては、結晶方位の配向性や粒径、粒の形状などの組織構造がその性質を決定づける場合が多くあるため、製品を開発する上では非常に重要なパラメーターになります。
EBSD法は個々の結晶粒の方位を知ることが可能である為、1993年に材料の組織観察手法として確立されて以来急速に発達し、材料組織の定量的解析には不可欠な手段として認識されています。

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X線回折装置(XRD)

X線回折装置(XRD)を用いたX線回折法により、定性・定量分析を実施いたします。
定性分析だけではなく、結晶構造解析も実施可能です。
また、X線反射率法(XRR)による薄膜評価も実施いたします。
XRRでは、膜厚や膜密度、表面粗さを測定することが可能です。

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超微小押し込み硬さ試験機(ナノインデンテーション)

超微小押し込み硬さ試験機(ナノインデンテーション)を用いて、硬度や弾性率など力学物性を測定致します。
金属材料から高分子材料まで幅広い材料の硬度試験に対応することができます。
マイクロビッカースでも測定できない微小なエリアや、膜厚の硬さの測定が可能です。また、温度ドリフトの影響を抑えた加熱試験も実施可能です。
JTLでは測定前の断面研磨やイオンミリング加工も合わせて受託を行っております。

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